测试探针是ICT/FCT检测针、BGA探针、高频率探针、高电流量探针的统一的称呼，不管哪些探针都是有自身的使用寿命，探针的画册上一般都是有自身的使用寿命，这一关键在于弹黄的使用寿命。那麼危害测试探针使用寿命的要素都有哪些呢？

基本的ICT/FCT探针，这类探针一般 使用寿命在三十万次上下，可是使用寿命通常全是由接口测试决策的，假如接口测试较为差，各种各样残渣进到探针连接管，便会导致弹黄毁坏，那样就务必要拆换探针。这类是小一部分拆换，也有一种是按时对探针开展拆换，当应用到一定的時间后，探针就务必要拆换。如果是高频率探针得话，这一较为独特，高频率探针关键取决于高频率针的替芯针，因此高频率探针拆换一般全是将内芯针开展拆换，那样可大幅度降低成本费。一切正常状况下，越细的探针相对而言就越少，因此一切正常探针的使用寿命全是贴近于生产商得出的基础理论使用寿命。对治具维修保养做的好，及其治具检测的木板的洁净度高，依照探针要求的行程安排开展检测，那样探针的拆换次数就低。