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半导体测试探针在IC治具中有什么作用?

返回列表 来源: 公司新闻 发布日期: 2020-07-03 09:38:51

IC(集成电路芯片)测试是IC芯片从设计方案到流片,再到运用全过程中十分关键的一环,不但能够 让半导体材料生产商节省很多的成本费,并且测试的結果十分的靠谱。IC测试针做为IC测试夹具更为关键的一个物品,关键具有什么作用呢?网编这儿为大伙儿介绍一下其功效。

1、提高夹具的耐磨性能

IC测试探针的的设计方案促使其弹黄室内空间比基本探针的要大,因此能得到更长的使用寿命。

2、连续电触碰设计方案

行程安排超出合理行程安排(2/3行程安排)或是一般行程安排时都可以维持较低的触碰特性阻抗,清除因探针导致的隐匿性引路导致的错判。

3、提升了测试精密度

IC测试针由于更为细致,一般直徑都是0.58mm下列,全长不超过6mm,因此可以做到同规格型号商品更强的精确度。

IC测试治具实用性高,只需拆换颗粒物限位开关框,就可以测试规格不一样的颗粒物;选用稍短進口多头探针设计方案,对比类似测试商品,可使IC和PCB中间的传输数据间距更短,进而确保测试結果更平稳,頻率高些,DDR3系列产品最大頻率达到2000MHz。


测试探针


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