1）探针的50-Ω平面图同轴电缆理应立即与DUT压点相触碰而无需触碰输电线。针对微带线和接着的共面探针设计方案，探针的触碰是用小的金属材料球来完成的，这一金属材料球要充足大以确保靠谱且精确性的触碰。

2）以便能另外触碰到DUT的数据信号压点和接地装置压点，必须将探针歪斜。这一全过程被称作“探针的平面化”。

3）探针的触碰可重复性比同轴连接器的精确性要好很多。有利于开展探针极尖与在片规范及专用型校正方式 的开发设计。

4）具备很高可重复性的触碰能够 开展探针的精确校正并将精确测量参照平面图调向其极尖处。来源于探针线和到同轴连接器的衔接所造成的探针的耗损及反射面是根据由射频电缆和射频连接器的偏差相相近的方法而相抵的。

5）因为其不大的几何图形规格，大家能够假定平面图标件的等效电路实体模型纯碎是集总式的。除此之外，大家能够从标件的几何图形规格来非常容易地预测模型主要参数。